雜散光是光譜儀/單色儀的重要指標，在光譜測量中，雜散光也會對測量結果產生很大影響。雜散光可能會從光路橫向散射，導致功率損耗。另一個影響是雜散光會污染光譜儀線性相機的像素，探測器不僅會接收到要求波長的理想光。

　　

　　低雜散光光譜儀采用非交叉光路設計，大大提高了紫外響應，減少了雜散光的影響。它是一種高靈敏度的面陣探測器，是一種理想的高性能光譜測量產品。由于線性工作范圍更寬，特別適用于透射和吸光度檢測。超低雜散光和高靈敏度的結合也使顏色測量更快。

　　

　　低雜散光光譜儀在可見光范圍（360-825nm）具有低雜散光（0.015%at400nm）效果和良好的測色效果，提高了低照度下的測量靈敏度和處理效果，可與科研光譜儀相媲美，可應對各種應用挑戰在我們的光學結構中，我們使用可變間距的凹面光柵，使分束系統更有效光柵的中心光罩密度為550(+/-2)光罩/mm，標稱閃耀波長為400nm凹面光柵有助于提高其熱穩定性在很寬的溫度范圍內測量結果幾乎沒有波長偏移，峰形具有良好的保留效果因此，在精密測量、熒光測量或吸光度測量中測量要求低雜散光和熱穩定性，優異的測量能力適用于需要寬測量范圍、低雜散光、高處理效率和良好熱穩定性的各種應用：

　　

　　1、大氣中的微量氣體成分。

　　

　　2、輕稠物質溶液的吸光度。

　　

　　3、LED/激光等光源的精密測量。

　　

　　4、組織醫學劑量學和生物矢量測量。

　　

　　5、固體表面上的熒光和用于后向散射的溶液/溶液和粉末中的熒光。